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產品中心少子壽命測試儀（MDP）MDpicts pro 原位變溫缺陷能級表征系統
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MDpicts pro高分辨率變溫少子壽命測試儀，系統能夠適用于各種不同材料和制備階段的測量，范圍從硅原料、裸晶圓到不同的制備階段，再到HgCdTe、CZT、InSb、HgCdSe、CdTe、GaAs、InP等化合物半導體，可以研究電阻率高于0.3 Ω cm的單晶硅和多晶硅。
更新時間：2026-03-17
產品型號：MDpicts pro
瀏覽量：454
MDpicts pro 原位變溫缺陷能級表征系統，優點是非接觸式，是一種對待測樣品無損傷和非破壞式的檢測手段，采用微波諧振微波腔來接收信號。由缺陷捕獲載流子的再發射引起的光電導率的變化可以通過微波吸收來檢測。MDPicts pro已成功用于分析各種具有半絕緣行為的化合物半導體。
更新時間：2026-03-17產品型號：MDpicts pro瀏覽量：332
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