技術文章
TECHNICAL ARTICLES1應用背景在微電子半導體行業日新月異的現狀，材料質量的提升與器件性能的優化成為推動技術進步的關鍵因素。碳化硅（SiC）作為一種新興的高性能半導體材料，以其優異的導熱性、高擊穿電場強度及耐高溫特性，在電力電子、新能源汽車、航天航空等領域展現出巨大的應用潛力。然而，碳化硅器件的性能優化并非易事，其涉及到材料質量、加工工藝、器件設計等多個層面的精細控制。在這個過程中，少數載流子壽命（少子壽命）作為評價半導體材料質量的重要參數之一，其精確測量與深度分析顯得尤為重要。2儀器介紹德國弗萊...
D8X射線衍射儀是一種基于X射線與物質相互作用原理的精密儀器，它能夠揭示物質內部的晶體結構信息。自從1895年倫琴發現X射線以來，這種神秘的光線便開啟了探索物質世界的新紀元。X射線由于其波長與原子間距相當，當其通過晶體時會發生衍射現象，這一特性為研究物質內部結構提供了可能。D8X射線衍射儀的核心工作原理基于布拉格定律。當X射線以特定角度射向晶體時，如果射線的波長與晶體中原子平面的距離滿足特定的數學關系，就會發生衍射增強。每一種晶體物質都有自己獨特的衍射圖案，這些圖案就像是物質...
X射線顯微斷層成像系統是一種先進的成像技術，廣泛應用于材料科學、生物醫學和工業檢測等領域。這種系統通過結合X射線技術和計算機重建算法，能夠提供高分辨率的三維圖像，幫助研究人員和工程師深入了解樣品的內部結構。以下是對X射線顯微斷層成像系統組成部件的描述：1.X射線源X射線源是整個成像系統的核心部分，負責產生高能X射線束，這些射線穿透樣品后被探測器捕獲。常見的X射線源包括封閉管式和開放式兩種類型。封閉管式X射線源通常用于實驗室環境，而開放式X射線源則適用于需要更高能量或更大工作空...
太忙，許久沒有寫什么東西。也很少能找到時間靜下心來去思考一些事情。大環境太卷，都不知道在卷什么。即便忙到飛起，還是有很多時間很可惜的浪費掉了。解析結構也是如此。有時忙活半天才發現，起初的結論壓根就是個“苦笑”的錯誤。從電報烏龍看科學解析的局限培訓時，突然想起初中時一件啼笑皆非的事情。在那個還幾乎沒有電話的年代，依稀記得初二那年，語文老師突然接到東北老家發來的電報，意思是父親病故速回。語文老師哭紅了眼睛跟我們說她回去幾天。然而一個禮拜之后語文課上，她十分氣憤地告訴我們這是一個大...
前言寫這個的起因，是因為做DEMO時犯的一個錯誤。其實很多測試看起來確實很簡單，很多高大上的儀器，真正的操作其實也并沒有什么繁瑣的。甚至從培訓的時候就能看的出來。大部分同學聽完怎么操作就懶得再聽下去了，于是20人結果經常堅持下來的人只有2人。我想大部分使用的人實際上連布拉格方程是什么都沒有理解。不然也不會有那么多人始終分不清單晶衍射儀和粉末衍射儀的區別。單晶X射線衍射SC-XRD是為了利用X射線衍射測定晶體的三維結構（實空間）而設計。通過測試單顆晶體，獲取三維空間的倒易點陣信...
飛行時間二次離子質譜（TOF-SIMS）作為重要表面分析技術，不僅能夠提供有機材料表面的質譜圖、還可以觀測表面離子空間分布以及膜層深度分布信息，展現出了廣泛的應用前景和巨大潛力。但是在對有機樣品進行TOF-SIMS分析時也面對一些挑戰，例如有機材料導電性差引起荷電效應，大質量數離子譜峰難以解析分子結構，以及有機組分易揮發導致超高真空環境下難以檢測到等。在本期文章中，我們將針對這些挑戰來介紹TOF-SIMS對應的分析利器。一.有絕緣樣品的荷電中和有機材料普遍存在導電性較差的問題...
在現代科學技術的廣闊領域中，D8X射線衍射儀以其獨特的功能和精準度，成為了探索物質微觀結構的重要工具。它不僅為科學家提供了一種非破壞性、高效的分析手段，更在材料科學、化學、物理學等多個領域發揮著不可替代的作用。D8X射線衍射儀基于布拉格定律，即當X射線照射到晶體上時，會發生衍射現象。通過測量衍射角度和強度，可以推斷出晶體的晶面間距、晶胞大小以及原子排列等信息。X射線衍射儀主要由X射線源、樣品臺、探測器和數據處理系統等部分組成。其中，X射線源提供穩定且高強度的X射線;樣品臺用于...
飛行時間質量分析器具備全質量范圍掃描的特點，在一次采集過程中能夠收集到較大質量范圍內的所有分子離子碎片。當使用TOF-SIMS對有機材料進行分析時，我們通過譜圖解析可以識別出這些分子離子對應的有機分子碎片，揭示有機材料鍵接結構。這些豐富的化學信息能夠直接反映有機物的組成與結構特征，為有機材料設計、合成和性能優化提供重要的實驗室數據支持。在本期文章中，我們將通過一系列案例來介紹TOF-SIMS在有機材料中的應用。有機分子結構解析有機材料是由不同類型的官能團和化學鍵所構成的，在T...
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