新聞資訊
當前位置：首頁新聞資訊協(xié)同創(chuàng)新，共破難題 | 束蘊儀器誠邀您共同參與第三屆國際光電集成技術大會！
會議背景
光電集成技術在信息處理、智能感知、自動控制、光子計算等領域具有廣泛應用，為這些領域的發(fā)展提供了關鍵技術支持。為進一步推進光電集成領域的技術交流，西湖大學光電研究院組織召開“第三屆國際光電集成技術大會"，本次大會聚焦多個核心專題，包括光電子器件與集成、光電集成仿真設計、新型微納加工技術及裝備、光電測試與封裝技術以及光電集成在光計算、光傳感、光顯示、光通信領域的應用等。
會議以促進光電集成領域協(xié)同創(chuàng)新、技術攻關、應用合作為主旨，從國家重大需求出發(fā)，面向光電行業(yè)發(fā)展的核心問題展開交流，以全球視野推進創(chuàng)新驅動發(fā)展，為構建現(xiàn)代產(chǎn)業(yè)體系注入強勁動力。
束蘊儀器誠邀請各位業(yè)界同仁，立足全球視野賦能科技創(chuàng)新與成果轉化，助力光電領域產(chǎn)學研融合，為我國現(xiàn)代光電產(chǎn)業(yè)體系高質量發(fā)展注入核心動能，期待與你并肩同行、共啟新篇！
會議邀請
專題一、前沿光電子器件及集成
專題二、光電集成仿真設計
專題三、新型微納加工技術及裝備
專題四、光電集成測試與封裝
專題五、光學人工智能與計算光子學
專題六、光傳感及其應用
專題七、新型光顯示技術
專題八、光通信與光網(wǎng)絡
會議信息
會議時間：2026 年 5 月 10 日 - 13 日
會議地點：中國?杭州?富陽
主辦單位：西湖大學光電研究院
束蘊儀器參展核心產(chǎn)品
Bruker D6 Phaser
Bruker D8 Discover
Bruker D8 Venture
DPM100
雙棱鏡超寬連續(xù)光譜單色儀
MDPmap
穩(wěn)態(tài)/瞬態(tài)載流子壽命測量儀
HR-SPS
高分辨率表面光電壓（瞬態(tài)/穩(wěn)態(tài)）譜儀
PHI Genesis
X射線光電子能譜儀（XPS）
PHI 710
俄歇電子能譜儀（AES）
PHI nanoTOF 3+
飛行時間二次離子質譜儀（TOF-SIMS）
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服務熱線：021-3468518117621138977
更新時間：2026-05-08
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